半导体电阻率测试仪是根据四探针原理，适合半导体器材厂，材料厂用于测量半导体材料的电阻率，方块电阻(簿层电阻)，也可以用作测量金属薄层电阻，经过对用户、半导体厂测试的调查，根据美国ASTM标准的规定，在电路和探头方面作了重大的修改和技术上的许多突破，它更适合于半导体器材厂工艺检测方面对中值、高阻硅、锗材料方块电阻和体电阻率的测量需要，成为普及型的电阻率测试仪。

　　本仪器具有测量精度高，稳定性好，重复性好，输入阻抗高，使用方便等特点，并有自校功能。

　　半导体电阻率测试仪采用通用的电流-电压降法即四端子测量法，可以消除电极与粉末接触产生的接触电阻误差，还可以消除联接系统所带来的误差，克服了以往传统的二端测量粉末电阻率仪器的弊病，真实、准确地测量出粉末样品的电阻率，因此重复性好。

　　半导体电阻率测试仪是为了适应当前迅速发展中的高分子半导电纳米材料电阻率测试需要，参照有关标准设计的。仪器直接采用数字显示，仪器的可靠性和稳定性大大增强，更方便于用户，而且价格低廉、实惠。配置不同的测试架可以对半导体粉末、高分子纳米粉末进行电阻、电阻率多用途的测量。

　　半导体电阻率测试仪适用于有机、无机半导体粉末材料的电阻率测量，特别适合于太阳能多晶硅、硅粉质量的测量、分选和质量控制。电阻率值直接数字显示由具有高精度加压系统，高度测量的测试台和仪器组成。

　　半导体电阻率测试仪主要包括电气箱和测试架两部分，电气测试部分由高精度直流数字电压表和直流恒定电流源组成。测试架为压力传感器，加压机构和粉末标准容器组成。压力机构采用手动操作、压力平稳。半导体电阻率测试仪适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门、是检验和分析固态、粉态和纳米样品质量的一种重要工具。